A study of polymeric films modified with SiC nanoparticles

J. Jaglarz; J. Cisowski; D. Bogdał; A. Kassiba; J. Sanetra

Data publikacji : 2010-05-30

Tom 55 Nr 5 (2010)

Badanie cienkich warstw polimerowych modyfikowanych nanocząstkami SiC

J. Jaglarz J. Cisowski D. Bogdał A. Kassiba J. Sanetra

Abstrakt

Badano właściwości optyczne cienkich warstw polimerowych poli(N-winylokarbazolu) (PVK), poliwęglanu (PC) oraz polistyrenu (PS) oraz warstw tych polimerów modyfikowanych nanocząstkami SiC o wymiarach rzędu 20-30 nm. Cienkie warstwy polimerów nanoszono na płytki szklane metodą powlekania wirowego stosując roztwór polimeru w tetrahydrofuranie (THF). Do wyznaczenia parametrów optycznych tych nowych materiałów przeprowadzono badania widm odbicia w zakresie 350-860 nm z użyciem sondy odbiciowej i sfery integrującej. W celu wyznaczenia grubości badanych warstw, wykonano pomiary elipsometryczne. Badania wykazały, że niewielka zawartość nanocząstek SiC w polimerach zmienia współczynnik załamania światła próbki, nie powodując przy tym optycznej niejednorodności (tabela 1, rys. 1 i 2). Jednak zwiększanie zawartości nanocząstek powoduje ich agregację, co skutkuje wzmocnieniem rozpraszania światła (rys. 3 i 4).

Słowa kluczowe

cienkie warstwy polimerowe ; nanocząstki SiC ; polimery modyfikowane nanocząstkami ; właściwości optyczne thin polymeric films ; SiC nanoparticles ; nanoparticle-modified polymers ; optical properties

Szczegóły

Bibliografia

Wskaźniki

Autorzy

Pobierz pliki

PDF (English)

Zasady cytowania

Jaglarz, J., Cisowski, J., Bogdał, D., Kassiba, A., & Sanetra, J. (2010). Badanie cienkich warstw polimerowych modyfikowanych nanocząstkami SiC. Polimery, 55(5), 399-402. Pobrano z http://ichp.vot.pl/index.php/p/article/view/1021

Bibliografia

Kalinowski J.: “Polymers and other Advanced Materials: Emerging Technologies and Business Opportunities” (Eds. Prasad P. N., Mark J. E., Fai T. J.), Plenum Press, New York 1995, pp. 361-368.

2. Glatthaar M., Meyer T., Meyer A.: Solar Energy Mater. Sol. Cells 2007, 91, 379.

3. Bogdał D., Jaskot K.: Synth. Commun. 2000, 38, 3341.

4. Bogdał D., Warzała M., Pielichowski J., Sanetra J.: Polimery 1999, 44, 146.

5. Patel S., Ramrakhiani M., Bisen D. P.: J. Appl. Polym. Sci. 2007, 104, 722.

6. Lipson S. M., O’Brien D. F., Byrne H. J., Davey A. P., Blau W. J.: Thin Solid Films 2000, 370, 262.

7. Kassiba A., Tabellout M., Charpentier S., Herlin N., Emery J. R.: Solid State Commun. 2000, 115, 389.

8. Martinez-Anton J. C.: Appl. Opt. 2000, 25, 39.

9. Azzam R. M. A., Bashara N. M.: “Ellipsometry and Polarized Light”, Nord Holland, Amsterdam 1989.

10. Jaglarz J., Cisowski J., Jurusik J., Domański M.: Rev. Adv. Mater. Sci. 2004, 8, 82.

11. Stover J. C.: “Optical Scattering. Measurements and Analysis”, SPIE Publ., Belligham (USA) 1995.

12. Yaroshchuk O. V., Dolgov L. O.: Opt. Mater. 2007, 29, 1097.

13. Palik E. D.: “Handbook of Optical Constants of Solids”, Academic Press, New York 1998.

Google Scholar

Cytowania w Google Scholar

Statystyki

Total abstract views : 51

PDF Downloads : 33

J. Jaglarz polimery@ichp.pl

J. Cisowski

D. Bogdał

A. Kassiba

J. Sanetra