X-Ray diffuse scattering investigation of polytetrafluoroethylene surfaces

Ch. Gravalidis; S. Logothetidis

Data publikacji : 2022-08-30

Tom 51 Nr 5 (2006)

Badanie powierzchni politetrafluoroetylenu metodą rozpraszania promieniowania rentgenowskiego

Ch. Gravalidis S. Logothetidis

Abstrakt

Przedstawiono teoretyczne podstawy wykorzystywanej metody, ze szczególnym uwzględnieniem oddziaływania promieniowania Rtg z charakteryzowanymi powierzchniami. Przedmiotem badań były powierzchnie niewygrzewanych i wygrzewanych (w temp. do 350 oC, w obojętnej atmosferze) próbek politetrafluoroetylenu (PTFE). Stosując dwa warianty wymienionej w tytule metody rozproszeniowej (X-Ray Diffuse Scattering - XDS), mianowicie XDS Longitudinal Scans i XDS Rocking Scans, oceniono wpływ wygrzewania oraz regulowanej szybkości nanoszenia ilości naniesionej próbki na szorstkość powierzchni (s), wymiary cząstek, długość korelacyjną (x) i współczynnik Hursta (h) (rys. 1-4, tabela 1). Ustalono, że wygrzewanie powoduje zmniejszenie cząstek, przy czym w przypadku próbek niewygrzewanych wymiary cząstek maleją liniowo wraz ze zwiększaniem ilości materiału (szybkości nanoszenia), a w odniesieniu do próbek wygrzewanych zależność ta wykazuje maksimum (rys. 2). Szorstkość wygrzewanych próbek nie zależy od szybkości nanoszenia (tabela 1) i jest niewielka (stałe i małe wartości s oraz h).

Słowa kluczowe

politetrafluoroetylen ; rozpraszanie promieniowania rentgenowskiego ; ocena powierzchni ; szorstkość ; wymiary cząstek polytetrafluoroethylene ; X-Ray Diffuse Scattering ; surface assessment ; roughness ; grain size

Szczegóły

Bibliografia

Wskaźniki

Autorzy

Pobierz pliki

PDF (English)

Zasady cytowania

Gravalidis, C., & Logothetidis, S. (2022). Badanie powierzchni politetrafluoroetylenu metodą rozpraszania promieniowania rentgenowskiego. Polimery, 51(5), 359–364. Pobrano z https://ichp.vot.pl/index.php/p/article/view/1533

Bibliografia

Weber W., Lengeler B.: Phys. Rev. B 1992, B46, 7953.

2. Parrat L. G.: Phys. Rev. 1954, 95, 359.

3. Nevot L., Croce P.: Rev. Phys. Appl. 1980,15, 761.

4. Braslau A., Deutsch M., Pershan R S., Weiss A. H., Als-Nielsen J., Bohr J.: Phys. Rev. Lett. 1985, 54,114.

5. Sinha S. K., Sirota E. B., Garoff S., Stanley H. B.: Phys. Rev. 1988, B38, 2297.

6. Stone V. W., Jonas A. M., Nystem B., Legras R.: Phys. Rev. 1995, B60,5883.

7. Thompson C., Palasantzas G., Feng Y. R, Sinha S. K., Krim J.: Phys. Rev. 1994, B49, 4902.

8. www.dupont.com/releasesystems/en/products/ dryfilm_dispersion.html

9. Logothetidis S., Stergioudis G.: Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 2463.

10. Schuster H., Goebel H.: Mv. X-Ray Anal 1996, 39,1.

11. Bunn C. W., Howells E. R.: Nature 1954,174, 549.

12. Pierce R. H. H. Jr., Clark E. S., Whitney J. R, Bryant W. M. D.: Abstract of Papers, 130th Meeting of the American Chemical Society 1956, Atlantic City, NJ, p. 9S.

13. Nakafuku C., Takemura T.: Jpn. J. Appl Phys. 1975, 14, 599.

14. Clark E. S., Muus L. T.: Z. Kristallogr. 1962,117,108.

15. Clark E. S.: Polymer 1999, 40, 4659.

Google Scholar

Cytowania w Google Scholar

Statystyki

Total abstract views : 0

PDF Downloads : 0