Hirvonen J. K.: Annu. Rev. Muter. Sci. 1989, 19, 401.
2. Iwaki M.: Rev. Sci. Instrum. 2002, 73, 863.
3. Bieliński D. M., Jagielski J., Lipiński R, Pieczyńska D., Ostaszewska U., Piątkowska A.: American Instrum. Phys.: Conf. Proc. Ser. 2009, 1099, 357.
4. Pruitt L. A.: Adv. Polym. Sci. 2003, 162, 63.
5. Fleischer R. L., Price P. B., Walker R. M.: Science 1965, 149, 383.
6. Denker A., Homeyer H., Kluge H., Opitz-Coutureau J.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 2005, 240 (1-2), 61.
7. Manso M., Valesia A., Lejeune M., Gilliand D., Ceccone G., Rossi R: Acta Biomater. 2005, 1 (4), 431.
8. Jagielski J.: Vacuum 2005, 78 (2-4), 409.
9. Hartley N. E. W.: Thin Solid Films 1979, 64, 177.
10. Jagielski J., Thome L., Nowicki L., Turos A.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 2005, 240 (1-2), 111.
11. Koval Y.: J. Vac. Sci. Technol. B 2004, 22 (2), 843.
12. Sviridov D. V, Odzhaev V. B., Kozlov I. P: „lon-Implanted Polymers” rozdz. 11 w „Electrical and Optical Polymer Systems. Fundamentals, Methods and Applications” (red. Wise D. L., Wnęk G., Trantolo D. J., Cooper T. M., Gresser J. D.), Marcel Dekker, New York 1998.
13. Kondyurin A., Bilek M.: „łon Beam Treatment of Polymers. Application Aspects from Medicine to Space”, rozdz. 9, Elsevier, Oxford-Amsterdam 2008.
14. Nenadovic T. M.: Materiali in Tehnologije 2005, 39 (1-2), 9.
15. Bieliński D. M., Ślusarski L., Affrossman S., Hartshorne M., Pethrick R. A.: J. Appl. Polym. Sci. 1995, 56, 853.
16. Burakowski T, Wierzchoń T.: „Inżynieria powierzchni metali”, WNT, Warszawa 1995.
17. Jagielski J., Turos A., Bieliński D. M., Abdul-Kader A. M.: Nuci. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 2007, 261, 690.
18. Bieliński D. M., Lipiński P, Ślusarski L., Grams J., Paryjczak T., Jagielski J., Turos A., Madi N. K.: Surf. Sci. 2004, 564, 179.
19. Turos A., Jagielski J., Piątkowska A., Bieliński D. M., Ślusarski L., Madi N. K.: Vacuum 2003, 70, 201.
20. Dong H., Bell T.: Surf. Coat. Technol. 1999, 111, 29.
21. Bertrand P, De Puydt Y, Beuken J.-M., Lutgen P, Feyder G.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B1987, 19-20 (2), 887.
22. Endrskt R., Skvorckik V., Rybka V., Hnatovicz V.: Radiat. Eff. Defect. S. 1995, 137 (1-4), 25.
23. www.spirecorp.com/spire-biomedical/surface-treatment/technology-overview/ion-implantation.php
24. Bieliński D. M., Tranchida D., Lipiński P, Jagielski J., Turos A.: Vacuum 2007, 81, 1256.
25. Turos A., Abdul-Kader A. M., Grambole D., Jagielski J., Piątkowska A., Madi N. K., Al-Maadeed M.: Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 2006, 249, 660.
26. Bieliński D. M., Ślusarczyk C, Jagielski J., Lipiński P: Polimery 2007, 52, 329.
27. Bieliński D. M., Jagielski J., Pankiewicz D.: Gummi Fasern Kunstst. 2009, 62 (4), 201.
28. ”Fundamentals of lon-Irradiated Polymers” (red. Fink D.), cz. II, rozdz. 4, Springer-Yerlag, Berlin-Heidelberg 2004.
29. Rodriguez R. J., Garcia J. A., Sanchez R., Perez A., Garrido B., Morante J.: Surf. Coat. Technol. 2002, 158-159, 636.
30. Radwan R.-M., Abdul-Kader A.-M., El-Hag Ali A.: Nuci. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 2008, 266 (16), 3588.
31. Biedermann H., Slavinska D.: „Ion Bombardment of Organic Materials and its Potential Application” w materiałach „The International Conference on łon Implantation” (red. Matsuo J., Takaoka G., Hamada I.), Kyoto 1998, str. 815.
32. Bieliński D. M., Ślusarski L., Lipiński R, Turos A., Jagielski J.: Przem. Chem. 2003, 82, 885.
33. Piątkowska A., Jagielski J., Turos A., Ślusarski L., Bieliński D. M.: Optica Aplicata 2002, 32, 267.
34. Pat. US 7 563 505 (2009).
35. Bowden F. R, Tabor D.: „Friction an Introduction to Tribology”, Anchor Press, Doubleday Garden City, New York 1973.
36. Moore D. R: „The Friction and Lubrication of Elastomers”, Pergamon Press, Oxford-New York-Toronto-Sydney-Braunschweig 1972.
37. Bieliński D. M., Lipiński R, Urbaniak M., Jagielski J.: Tribol. Lett. 2006, 23 (2), 139.
38. Borutto A., Crivellone G., Marani R: Wear 1998, 222, 57.
39. Lipiński R, Bieliński D. M., Okrój W, Jakubowski W, Klimek L., Jagielski J.: Vacuum 2009, 83, S200.
40. Huang N., Yang R, Leng Y. X.: Surf. Coat. Technol. 2004, 186 (1-2), 218.
Google Scholar